| 課程與核心能力關聯配比(%) |
課程目標之教學方法與評量方法 |
| 課程目標 |
核心能力 |
配比(%) |
教學方法 |
評量方法 |
| We shall try to achieve three goals in this course: (1) discuss some advanced topics in digital testing; (2) introduce some topics that are both interesting and hot in VLSI-testing; and (3) try to see how to conduct good research. We shall try to encourage more interactions among all participants. The following topics will be covered this year. |
| 2.具備分析、設計與實作資訊硬體系統之能力 |
| 3.具備分析、設計與實作資訊軟體系統之能力 |
| 7.具備資料蒐集、獨立思考、解決問題及研究創新之能力 |
| 8.尊重學術倫理並具備學術論文的簡報與撰寫能力 |
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| 授課內容(單元名稱與內容、習作/每週授課、考試進度-共18週) |
| 週次 |
授課內容 |
| 第1週 |
Introduction |
| 第2週 |
Error control code and application |
| 第3週 |
Error control code and application |
| 第4週 |
Test Compression |
| 第5週 |
Test Compression |
| 第6週 |
Self-checking circuit |
| 第7週 |
Self-checking circuit |
| 第8週 |
Low-Power Testing |
| 第9週 |
Midterm exam |
| 第10週 |
Special topics |
| 第11週 |
Special topics |
| 第12週 |
Special topics |
| 第13週 |
Special topics |
| 第14週 |
Special topics |
| 第15週 |
Special topics |
| 第16週 |
Special topics |
| 第17週 |
Special topics |
| 第18週 |
Special topics |
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| 學習評量方式 |
One test: 30%
Presentation: 20%
Research Ideas: 20%
Project: 30% |
| 教科書＆參考書目(書名、作者、書局、代理商、說明) |
System on Chip Test Architectures, L.-T. Wang, C. E. Stroud, and N. A. Touba, (Morgan Kaufmann Publishers, 2008)
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| 課程教材（教師個人網址請列在本校內之網址） |
Course slides will be provided to students who take this course.
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| 課程輔導時間 |
Friday 4:00-5:00 p.m.
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| 聯合國全球永續發展目標 |
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