週次 |
授課內容 |
第1週 |
Introduction to Nanoscience and Nanotechnology
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第2週 |
Nanotechnology in real space |
第3週 |
OM and TEM |
第4週 |
Scanning Electron Microscopy and EDS |
第5週 |
Surface Analysis with Real Space Microscopy |
第6週 |
Field emission microscope (FEM) and field ion microscopes (FIM) |
第7週 |
Scanning Tunneling Microscopy |
第8週 |
Scanning Tunneling Microscopy |
第9週 |
Midterm Exam |
第10週 |
Atomic Force Microscopy |
第11週 |
Atomic Force Microscopy |
第12週 |
Conductive AFM, EFM and SCM |
第13週 |
Scanning Probe Microscopy:MFM |
第14週 |
Scanning Probe Microscopy:SNOW |
第15週 |
SPM Lithography |
第16週 |
Final Presentaion |
第17週 |
Self-Learning: PBL Learning |
第18週 |
Self-Learning: PBL learning |