| 課程與核心能力關聯配比(%) |
課程目標之教學方法與評量方法 |
| 課程目標 |
核心能力 |
配比(%) |
教學方法 |
評量方法 |
| 正確畫出各種半導體元件,在平衡狀態和偏壓狀態下的能帶圖,並能分析載子的移動方式,進而推導出其電流和電壓之關係. |
|
|
|
|
| 授課內容(單元名稱與內容、習作/每週授課、考試進度-共18週) |
| 週次 |
授課內容 |
| 第1週 |
1.Review modern physics |
| 第2週 |
2.Semiconductor Fundamentals_1 |
| 第3週 |
2.Semiconductor Fundamentals_2 |
| 第4週 |
2.Semiconductor Fundamentals_3 |
| 第5週 |
3.P-N junction device_1 |
| 第6週 |
3.P-N junction device_2 |
| 第7週 |
3.P-N junction device_3 |
| 第8週 |
4.Metal semiconductor contact device |
| 第9週 |
Midterm Exam |
| 第10週 |
5.Metal-oxide-semiconductor ( MOS ) capacitor_1 |
| 第11週 |
5.Metal-oxide-semiconductor ( MOS ) capacitor_2 |
| 第12週 |
5.Metal-oxide-semiconductor ( MOS ) capacitor_3 |
| 第13週 |
6.MOSFET device_1 |
| 第14週 |
6.MOSFET device_2 |
| 第15週 |
6.MOSFET device_3 |
| 第16週 |
7.Bipolar junction transistor ( BJT )_1 |
| 第17週 |
7.Bipolar junction transistor ( BJT )_2 |
| 第18週 |
Final Exam |
|
| 學習評量方式 |
| Midterm Exam, Final Exam |
| 教科書＆參考書目(書名、作者、書局、代理商、說明) |
Text book: Modern Semiconductor Devices for Integrated Circuits, by Chenming Calvin Hu, Pearson
Ref. book: 1. Semiconductor Device Fundamentals, by R. F. Pierret, Addison Wesley
2. Semiconductor Devices Physics Technology, by S. M. Sze, John Wiley
|
| 課程教材（教師個人網址請列在本校內之網址） |
| iLearning 3.0 |
| 課程輔導時間 |
| Tue. 14:00~16:00 |
| 聯合國全球永續發展目標 |
|
|