| 課程與核心能力關聯配比(%) |
課程目標之教學方法與評量方法 |
| 課程目標 |
核心能力 |
配比(%) |
教學方法 |
評量方法 |
本課程介紹雙束型聚焦離子束(Dual Beam-FIB)的儀器原理及其應用於材料微結構之分析方法。期藉由本課程的修習讓學生充分了解各項設備的功能，進而活用於其研究工作。
This course introduces the principles of Dual Beam Focused Ion Beam (Dual Beam-FIB) and its applications in the analysis of material microstructure. By completing this course, students will gain a thorough understanding of the functionalities of various equipment, enabling them to effectively apply these tools in their research work.
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| 授課內容(單元名稱與內容、習作/每週授課、考試進度-共16週加自主學習) |
| 週次 |
授課內容 |
| 第1週 |
雙束型聚焦離子束(Dual Beam-FIB)
-穿透式電子顯微鏡試片製備
-定點剖面與SEM觀察
-離子穿隧影像對比
Dual Beam Focused Ion Beam (Dual Beam-FIB)
-Sample Preparation for Transmission Electron Microscopy (TEM)
-Site-Specific Cross-Sectioning and SEM Observation
-Ion-Tunneling Image Comparison
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| 第2週 |
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| 第3週 |
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| 第4週 |
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| 第5週 |
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| 第6週 |
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| 第7週 |
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| 第8週 |
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| 第9週 |
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| 第10週 |
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| 第11週 |
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| 第12週 |
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| 第13週 |
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| 第14週 |
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| 第15週 |
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| 第16週 |
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自主學習
內容 |
01.參與專業論壇、講座、企業分享等產官學研相關交流活動
03.製作專題報告
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| 學習評量方式 |
| Attendance and Project Report |
| 教科書＆參考書目(書名、作者、書局、代理商、說明) |
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| 課程教材（教師個人網址請列在本校內之網址） |
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| 課程輔導時間 |
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| 聯合國全球永續發展目標(連結網址) |
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