國立中興大學教學大綱
課程名稱 (中) 半導體儀器分析之高解析度穿透式電子顯微鏡檢測分析實作課程(7532)
(Eng.) Hands-on Course on High-Resolution Transmission Electron Microscopy De-tection and Analysis in Semiconductor Instrumentation
開課單位 前瞻中心(研)
課程類別 選修 學分 0 授課教師 王雷 等
選課單位 不限系所 授課使用語言 中/英文 開課學期 1142
課程簡述 穿透式電子顯微鏡原理及儀器基本操作使用
Principles of Transmission Electron Microscopy and Basic Instrument Operation.
先修課程名稱
課程與核心能力關聯配比(%) 課程目標之教學方法與評量方法
課程目標 核心能力 配比(%) 教學方法 評量方法
本課程介紹穿透式電子顯微鏡(TEM)的儀器原理及其應用於材料化學組成、微結構之分析方法。期藉由本課程的修習讓學生充分了解各項設備的功能,進而活用於其研究工作。
This course introduces the principles of Transmission Electron Microscopy (TEM) and its applications in the analysis of material chemical composition and microstructure. By completing this course, students will gain a thorough understanding of the functionalities of various equipment, enabling them to effectively apply these tools in their research work.
專題探討/製作
參訪
其他
講授
書面報告
出席狀況
作業
實作
授課內容(單元名稱與內容、習作/每週授課、考試進度-共16週加自主學習)
週次 授課內容
第1週 穿透式電子顯微鏡(TEM)
-儀器原理及設備介紹
-電子繞射圖案之成像
-穿透式影像之成像方式
-明場區、暗場區、中心暗場區、弱暗場區之應用。
Transmission Electron Microscope (TEM)
-Principles of Instrumentation and Equipment Introduction
-Imaging of Electron Diffraction Patterns
-Methods of Transmission Imaging
-Applications of Bright Field, Dark Field, Center Dark Field, and Weak Dark Field Regions.
第2週
第3週
第4週
第5週
第6週
第7週
第8週
第9週
第10週
第11週
第12週
第13週
第14週
第15週
第16週
自主學習
內容
   01.參與專業論壇、講座、企業分享等產官學研相關交流活動
   03.製作專題報告

學習評量方式
Attendance and Project Report
教科書&參考書目(書名、作者、書局、代理商、說明)

課程教材(教師個人網址請列在本校內之網址)

課程輔導時間

聯合國全球永續發展目標(連結網址)
提供體驗課程:N
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更新日期 西元年/月/日:2026/01/15 10:50:54 列印日期 西元年/月/日:2026 / 5 / 06
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