國立中興大學教學大綱
課程名稱 (中) 奈米光電檢測技術(6057)
(Eng.) Nano Optical and Electronic Testing and Measurement Technologies
開課單位 奈米科學所
課程類別 選修 學分 3 授課教師 張茂男
選課單位 半導體碩學程 / 碩士班 授課使用語言 中文 英文/EMI 開課學期 1141
課程簡述 這是一門介紹奈米檢測技術的相關知識與原理,以及學習以奈米檢測技術分析製程問題的課程。本學期課程由半導體材料特性的簡介開始,搭配各項材料分析技術的說明,包括掃描探針顯微鏡技術、電子顯微鏡技術、光學繞射技術、質譜分析技術等四大類,可深入了解半導體材料檢測與分析技術對科技產業的重要性。在課程中,將安排我國尖端半導體產業與研究機構的資深主管進行專題講授與經驗分享;在課程後段,有機會進一步認識檢測產業的概況,是理論與實用兼具的課程。課程之修課人數如少於18人,將安排PBL課程,PBL課程細節將在上課第一週公布,以下課綱規劃為修課人數少於18人的安排。因應防疫需要,課程將機動配合防疫指引,採線上或實體方式授課,本學期請留意課程通知。
先修課程名稱
課程含自主學習 Y
課程與核心能力關聯配比(%) 課程目標之教學方法與評量方法
課程目標 核心能力 配比(%) 教學方法 評量方法
藉由半導體製程的分析需求引導,學習奈米級檢測技術的整合運用,使修課學生深入了解與體驗奈米檢測技術的科學原理與在產業界的應用,同時培養解決問題的能力。
2.專業知識之應用
3.自我充實的能力與技巧
4.清楚表達研究結果
5.問題分析與邏輯推理
6.相關產業分析能力
20
30
20
20
10
討論
講授
書面報告
測驗
授課內容(單元名稱與內容、習作/每週授課、考試進度-共16週加自主學習)
週次 授課內容
第1週 課程說明: 說明課程特色 / 課程講師介紹 / 教室規則 / 評量標準
第2週 檢測分析技術概論: 半導體材料特性 / 檢測技術對奈米光電半導體產業之重要性
第3週 二次離子質譜儀(SIMS)分析技術
第4週 原子力顯微鏡(AFM)分析技術
第5週 掃描穿隧顯微鏡(STM)分析技術
第6週 掃描式電子顯微鏡(SEM)

第7週 掃描式電子顯微鏡(SEM)
第8週 穿透式電子顯微鏡(TEM)
第9週 穿透式電子顯微鏡(TEM)
第10週 電性掃描探針顯微鏡: E-SPM (SCM / CAFM / SSRM)
第11週 電性掃描探針顯微鏡: E-SPM (SCM / CAFM / SSRM)
場感測掃描探針顯微鏡: FS-SPM (EFM / MFM / KPFM)
第12週 檢測產業概況
第13週 自主學習 (奈米檢測技術在半導體產業的應用)
第14週 自主學習評量(分組簡報)
第15週 PBL課程
第16週 PBL課程 PBL課程 期末口試
自主學習
內容

學習評量方式
修課人數 > 18人,採以下方式:
期中考: 40 %
期末考: 40 %
學習報告: 20 %

修課人數<(=)18人,採小組口試方式評分,口試委員為所有課程講師:
自主學習評量: 40 %
期末口試: 40 %
書面學習報告: 20 %
教科書&參考書目(書名、作者、書局、代理商、說明)
奈米檢測技術
(國家實驗研究院儀器科技研究中心出版)
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課程教材(教師個人網址請列在本校內之網址)
由各授課老師提供。

課程輔導時間
視需要安排。
聯合國全球永續發展目標(連結網址)
08.就業與經濟成長   09.工業、創新基礎建設提供體驗課程:N
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更新日期 西元年/月/日:無 列印日期 西元年/月/日:2025 / 7 / 03
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