| 課程與核心能力關聯配比(%) |
課程目標之教學方法與評量方法 |
| 課程目標 |
核心能力 |
配比(%) |
教學方法 |
評量方法 |
本課程介紹掃描式電子顯微鏡(SEM)的儀器原理及其應用於材料化學組成、微結構之分析方法。期藉由本課程的修習讓學生充分了解各項設備的功能，進而活用於其研究工作。
This course introduces the principles of Scanning Electron Microscopy (SEM) and its applications in the analysis of material chemical composition and microstructure. By completing this course, students will gain a thorough understanding of the functionalities of various equipment, enabling them to effectively apply these tools in their research work.
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| 授課內容(單元名稱與內容、習作/每週授課、考試進度-共16週加自主學習) |
| 週次 |
授課內容 |
| 第1週 |
掃描式電子顯微鏡(SEM)
- SEM儀器構造與成像原理
- 電子束與材料之作用
- 二次電子影像(SEI)
- 背向散射電子影像(BEI)
- X光能譜儀(EDS)
Scanning Electron Microscope (SEM)
-Structure and Imaging Principles of SEM Instruments
-Interaction of Electron Beam with Materials
-Secondary Electron Imaging (SEI)
-Backscattered Electron Imaging (BEI)
-X-ray Spectroscopy (EDS)
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| 第2週 |
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| 第3週 |
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| 第4週 |
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| 第5週 |
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| 第6週 |
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| 第7週 |
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| 第8週 |
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| 第9週 |
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| 第10週 |
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| 第11週 |
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| 第12週 |
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| 第13週 |
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| 第14週 |
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| 第15週 |
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| 第16週 |
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自主學習
內容 |
01.參與專業論壇、講座、企業分享等產官學研相關交流活動
03.製作專題報告
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| 學習評量方式 |
| Attendance and Project Report |
| 教科書＆參考書目(書名、作者、書局、代理商、說明) |
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| 課程教材（教師個人網址請列在本校內之網址） |
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| 課程輔導時間 |
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| 聯合國全球永續發展目標(連結網址) |
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