國立中興大學教學大綱

課程名稱	(中) 電子顯微鏡原理(7905)
	(Eng.) Principles of Electron Microscopy
開課單位	材料系
課程類別	選修			學分	3	授課教師	林克偉
選課單位	材料系 / 碩專班			授課使用語言	中文	開課學期	1151
課程簡述	The course explains the interactions taking place between an electron beam and a sample. The results can be used for imaging and analysis.Current topics such as energy-filtered imaging, high-resolution scanning and transmission microscopy etc. are all described and illustrated.
先修課程名稱

課程與核心能力關聯配比(%)			課程目標之教學方法與評量方法
課程目標	核心能力	配比(%)	教學方法	評量方法
Understand the principles of Electron Microscopy (SEM and TEM).	1.特定材料之專業知識 2.精進專題研究之能力 3.撰寫專業論文之能力 4.創新思考、解決問題與終身學習之能力 5.跨領域協調整合之能力 6.國際觀、產業發展及綠色材料知識 7.領導、管理及規劃之能力 8.學術專業倫理	20 15 15 10 10 20 5 5	專題探討/製作 參訪 習作 講授	書面報告 測驗
授課內容(單元名稱與內容、習作/每週授課、考試進度-共16週加自主學習)
週次 授課內容 第1週 Introduction, Examples of the use of electron microscopy 第2週 Microscopy with light and electrons-1 第3週 Microscopy with light and electrons-2 第4週 Electron-specimen interactions: processes and detectors-1 第5週 Electron-specimen interactions: processes and detectors-2 第6週 The electron microscope family-TEM-1 第7週 The electron microscope family-TEM-2 第8週 Mid-term exam 第9週 The electron microscope family-SEM-1 第10週 The electron microscope family-SEM-2 第11週 Specimen preparation for electron microscopy 第12週 The interpretation and analysis of micrographs 第13週 Analysis in the electron microscope 第14週 Paper download and prepare report (pptx format) 第15週 Specialised EM- and other microscopical and analytical techniques 第16週 Final exam 自主學習 內容    02.閱覽產業及學術相關多媒體資料    03.製作專題報告
學習評量方式
Midterm exam (30%), Final exam (30%), Quiz (10%), Report (30%).
教科書＆參考書目(書名、作者、書局、代理商、說明)
The principles and practice of electron microscopy, Ian M. Watt, 2nd Ed., Cambridge University Press (1997).
課程教材（教師個人網址請列在本校內之網址）
課程輔導時間
Thursday afternoon 2-4pm or make an appointment by e-mail.

請尊重智慧財產權及性別平等意識，不得非法影印他人著作及受保護的電子檔案。
更新日期 西元年/月/日：2026/08/14 16:45:48	列印日期 西元年/月/日：2026 / 10 / 05
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