國立中興大學教學大綱
課程名稱 (中) 數位系統測試(6652)
(Eng.) Digital Testing
開課單位 資工系
課程類別 選修 學分 3 授課教師 王行健
選課單位 資工系 / 碩士班 授課使用語言 中文 開課學期 1151
課程簡述 The course introduces the techniques employed in testing, design for testability and fault-tolerant design of digital systems.
先修課程名稱
課程與核心能力關聯配比(%) 課程目標之教學方法與評量方法
課程目標 核心能力 配比(%) 教學方法 評量方法
1. The course introduces the techniques employed in testing and design for testability.
1.具備資訊科學素養、資訊理論與數學分析之能力
2.具備分析、設計與實作資訊硬體系統之能力
7.具備資料蒐集、獨立思考、解決問題及研究創新之能力
20
40
40
講授
專題探討/製作
測驗
作業
書面報告
授課內容(單元名稱與內容、習作/每週授課、考試進度-共16週加自主學習)
週次 授課內容
第1週 1. Fundamentals
• Basic ideas
• Fault models
• Fault collapsing
第2週 1. Fundamentals
• Basic ideas
• Fault models
• Fault collapsing
第3週 1. Fundamentals
• Basic ideas
• Fault models
• Fault collapsing
第4週 2. Combinational ATPG
• D-Algorithm
• PODEM
第5週 2. Combinational ATPG
• D-Algorithm
• PODEM
第6週 3. Fault Simulation
第7週 4. Sequential Testing
第8週 Midterm
第9週 5. Design for Testability
• Ad hoc design for testability techniques
• Scan design
第10週 5. Design for Testability
• Ad hoc design for testability techniques
• Scan design
第11週 6. Boundary Scan (IEEE Std. 1149)
第12週 7. Built-In Self-Test
第13週 8. Built-In Self-Test
第14週 9. Delay Testing
第15週 10. IDDQ Testing (short introduction)
11. SoC Testing (IEEE 1500)
第16週 Final exam
自主學習
內容		    02.閱覽產業及學術相關多媒體資料
   03.製作專題報告
學習評量方式
• Home work. There will be an assignment every 2-3 week, and you have two weeks for each assignment.
• Two exams.

Home work: 50% Mid Term: 50%
The weighs on exams and project may be changed.
教科書＆參考書目(書名、作者、書局、代理商、說明)
Textbook:
VLSI Test Principles and Architectures, L.-T. Wang, C.-W. Wu, and X. Wen, (Morgan Kaufmann Publishers, 2006)
Classroom Handout; to be downloaded from our Lab’s Web site.

Reference Books:
1. Digital Systems Testing and Testable Design, M. Abramovici, M. A. Breuer, and A. D. Friedman (IEEE Press, 1995).
The classical textbook about VLSI testing.
2. Testing of Digital Systems, N. Jha and S. Gupta (Cambridge University Press, 2003).
The most comprehensive and up-to-date book regarding digital testing.
3. Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory & Mixed-Signal VLSI Circuits, M.L. Bushnell and V.D. Agrawal (Kluwer Academic Publisher, 2003).
Some interesting introduction to ATE, yield, and AMS.
4. Testing Semiconductor Memories: Theory and Practice, A.J. van de Goor (Wiley 1991).
By far the most comprehensive book regarding memory testing.
課程教材（教師個人網址請列在本校內之網址）
Available in iLearning
課程輔導時間
Office Hour: Friday 4:00-5:00 p.m.
請尊重智慧財產權及性別平等意識，不得非法影印他人著作及受保護的電子檔案。
更新日期 西元年/月/日：2026/09/07 16:55:03 列印日期 西元年/月/日：2026 / 10 / 24
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