國立中興大學教學大綱

課程名稱	(中) SOC測試(6652)
	(Eng.) System-on-chip Testing
開課單位	資工系
課程類別	選修			學分	3	授課教師	黃德成
選課單位	資工系 / 碩士班			授課使用語言	中文	英文/EMI		開課學期	1131
課程簡述	This course proposes the technical issues regarding the design for testability (DFT) of IC design. It provides the basic IC testing technology including the fault model, fault simulation and test generation in the first part. Additionally, the Design for Testability and BIST skills will be introduced in the second part. Finally, the third part presents the SOC memory test, scheduling, control architecture and mix mode test.
先修課程名稱								課程含自主學習	N

課程與核心能力關聯配比(%)			課程目標之教學方法與評量方法
課程目標	核心能力	配比(%)	教學方法	評量方法
This course is to train the students having the capability of design for testability while in doing IC design.	2.具備分析、設計與實作資訊硬體系統之能力 3.具備分析、設計與實作資訊軟體系統之能力 4.具備分析、設計與整合資訊應用系統之能力	40 40 20	講授	測驗 口頭報告 作業
授課內容(單元名稱與內容、習作/每週授課、考試進度-共16週加自主學習)
週次 授課內容 第1週 Introduction 第2週 Fault model 第3週 Fault simulation 第4週 Test generation 第5週 Design for Testability 第6週 Design for Testability 第7週 Boundary Scan 第8週 Midterm test 第9週 BIST 第10週 BIST 第11週 Memory test 第12週 Memory test 第13週 Analog Test 第14週 P1500 第15週 SOC scheduling 第16週 SOC control architecture 自主學習 內容 SOC mix mode and Scan
學習評量方式
作業，考試，口頭報告
教科書＆參考書目(書名、作者、書局、代理商、說明)
課程教材（教師個人網址請列在本校內之網址）
課程輔導時間
星期二下午1:00-3:00
聯合國全球永續發展目標(連結網址)
提供體驗課程：N

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更新日期 西元年/月/日：無	列印日期 西元年/月/日：2025 / 4 / 27
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