| 週次 |
授課內容 |
| 第1週 |
Introduction to Nanoscience and Nanotechnology
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| 第2週 |
Nanotechnology in real space |
| 第3週 |
OM and TEM |
| 第4週 |
Scanning Electron Microscopy and EDS |
| 第5週 |
Surface Analysis with Real Space Microscopy |
| 第6週 |
Field emission microscope (FEM) and field ion microscopes (FIM) |
| 第7週 |
Scanning Tunneling Microscopy |
| 第8週 |
Scanning Tunneling Microscopy |
| 第9週 |
Midterm Exam |
| 第10週 |
Atomic Force Microscopy |
| 第11週 |
Atomic Force Microscopy |
| 第12週 |
Conductive AFM, EFM and SCM |
| 第13週 |
Scanning Probe Microscopy:MFM |
| 第14週 |
Scanning Probe Microscopy:SNOW |
| 第15週 |
SPM Lithography |
| 第16週 |
Final Presentaion
Self-Learning: PBL Learning
Self-Learning: PBL learning |
自主學習 內容 |
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