國立中興大學教學大綱

課程名稱	(中) 數位系統測試(7761)
	(Eng.) Digital Testing
開課單位	資工系
課程類別	選修			學分	3	授課教師	黃德成
選課單位	資工系 / 碩專班			授課使用語言	中文	英文/EMI		開課學期	1131
課程簡述	This course is to teach the students having the design for testability skills for the VLSI chip design. The course outline as following shows: 1. Introduction 2. Fault modeling 3. Fault simulation 4. Test generation 5. Boundary scan 6. Design for testability 7. Built-in self test 8. Memory test 9. Analog test 10. SOC test 11. Case studies
先修課程名稱								課程含自主學習	N

課程與核心能力關聯配比(%)			課程目標之教學方法與評量方法
課程目標	核心能力	配比(%)	教學方法	評量方法
This course is to teach the students having the design for testability skills for the VLSI chip design.			討論 講授	書面報告 口頭報告 作業 測驗
授課內容(單元名稱與內容、習作/每週授課、考試進度-共16週加自主學習)
週次 授課內容 第1週 Introduction 第2週 Introduction 第3週 Fault modeling 第4週 Fault modeling 第5週 Fault simulation 第6週 Fault simulation 第7週 Test generation 第8週 Test generation 第9週 Midterm 第10週 Boundary scan 第11週 Design for testability 第12週 Design for testability 第13週 Built-in self test 第14週 Built-in self test 第15週 Memory test 第16週 Analog test 自主學習 內容 SOC test Case studies
學習評量方式
考試、報告
教科書＆參考書目(書名、作者、書局、代理商、說明)
課程教材（教師個人網址請列在本校內之網址）
課程輔導時間
星期二下午1:00-3:00
聯合國全球永續發展目標(連結網址)
提供體驗課程：N

請尊重智慧財產權及性別平等意識，不得非法影印他人著作。
更新日期 西元年/月/日：2024/12/05 14:40:18	列印日期 西元年/月/日：2025 / 4 / 27
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